高低溫介電溫普儀

產品型號：HCWP-s系列

廠商性質：生產廠家

所在地：北京市

更新日期：2023-08-28

產品簡介：

高低溫介電溫普儀概述：
本高頻介電溫譜系統主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學性能測試，系統包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體，可測試材料的介電常數，介質損耗，阻抗譜 Co-Co 圖，機電耦合系數等，同時可分析被測樣品隨溫度，頻率，時間變化的曲線，測試治具可以根據產品及測試項目要求選購。

產品特性Product characteristics

品牌	華測

高低溫介電溫普儀特點：

公司高溫介電測試夾具、高溫四探針夾具、高溫兩探針夾具，可與高溫測試平臺配套組成一套或多套高溫阻抗、介電測量系統。
溫度范圍從室溫至 600℃、800℃、1000℃、1200℃，具備精確的 PID 控制算法，控溫精度可到±1℃，確保溫度控制不超調。提供 7 種不同控溫方式，盡可能滿足客戶多種測試需求。
高溫介電測試夾具根據標準 ASTM D150 方法，采用平行板電極原理設計。電極由上電極、下電極以及保護電極組成。上下電有良好的同心度和平行度，保護電極可減少周圍空氣電容的影響，使得測試數據更加可靠。
公司開發的高溫阻抗、介電測量系統軟件將高溫測試平臺、高溫測試夾具與 WK6500 系列、Agilent(Keysight) 4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron 1260 LCR 測量設備無縫連接,實現了自動完成高溫環境下的阻抗、介電參數的測量與分析。另外，還可根據用戶提供的其他 LCR 品牌或型號完成定制需求。
軟件可根據實驗方案設計，通過測量 C 和 D 值，自動完成介電常數和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時間多維變化的曲線。一次測量，同時輸出，測量效率高、數據豐富多樣。

技術指標：

型號	HCJD-801	HCJD -802	HCJD -803	HCJD -804
溫度范圍	室溫~600℃	室溫~800℃	室溫~1000℃	室溫~1200℃
溫度精度	±1℃	±1℃	±1℃	±1℃
測量精度	0.05%	0.05%	0.05%	0.05%
升溫速率	10℃	10℃	10℃	10℃
控溫方式	PID	PID	PID	PID
頻率范圍	20HZ-30MHZ	20HZ-30MHZ	20HZ-30MHZ	20HZ-30MHZ
電極材料	鉑金	鉑金	鉑金	鉑金
通道數	通道 1	通道 1	通道 1	通道 1
測量環境	常溫真空氣氛	常溫真空氣氛	常溫真空氣氛	常溫真空氣氛
通訊方式	USB	USB	USB	USB
設備尺寸	600X400X650mm	600X400X650m	600X400X650m	600X400X650m