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基礎信息Product information
產品名稱：
半導體材料高低溫電阻率測試系統
產品型號：SIR-450
廠商性質：生產廠家
所在地：北京市
更新日期：2026-03-06
產品簡介：
華測儀器SIR-450半導體材料高低溫電阻率測試系統應用在電子產品中，電容器、電阻器、半導體器件等需要在不同溫度下進行試驗，以評估其性能和可靠性。
產品特性Product characteristics
| 品牌 | 華測 |
|---|
SIR-450半導體材料高低溫電阻率測試系統
價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師
SIR-450半導體材料高低溫電阻率測試系統由華測儀器生產，用于預測EMC的HTRB性能，環氧塑封料（EMC， Epoxy Molding Compound）是用于半導體封裝的一種熱固性化學材料，具有保護芯片不受外界環境的影響，抵抗外部溶劑、濕氣、沖擊，保證芯片與外界環境電絕緣等功能，環氧塑封料對高功率半導體器件的高溫反向偏壓（HTRB）性能有重要控制作用。
產品參數
溫度范圍：-100~350°C
控溫精度：0.5°C
升溫斜率：10℃/min（可設定）
電阻：1×1016Ω
電阻率：1×103Ω~1×1016Ω
輸入電壓：220V
樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm
電極材料：黃銅或銀
夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷
絕緣材料：99氧化鋁陶瓷
測試功能：高低溫電阻率
數據傳輸：RS-232
產品優勢
除去電網諧波對采集精度的影響
除去不規則輸入的自動平均值功能
采用測量前等待的方式，讓材料受熱更均勻
多種加溫方式
勻速度加熱試驗
階梯式加熱試驗
熱循環試驗（僅供反射爐）
降溫試驗
加速度升溫（僅供反射爐）
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