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基礎信息Product information
產品名稱：
高溫介電溫譜測試儀
產品型號：HCWP-1000
廠商性質：生產廠家
所在地：北京市
更新日期：2023-07-29
產品簡介：
高溫介電溫譜測試儀是為了滿足材料在高溫環境下的介電性能測量需求而設計的。其主要用于絕緣材料在不同溫 度不同頻率下的電學性能測試，系統包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體.
產品特性Product characteristics
| 品牌 | 華測 |
|---|
產品名稱：高溫介電溫譜測試儀
產品型號：HCWP-1000
產品簡介：
高溫介電溫譜測試儀它由硬件設備和測量軟件組成，包括高溫介電測量儀主機、高溫介電測量系統軟件、高溫測試夾具、阻抗分析儀四個組成部分。根據測量需要，還可以外接真空油泵進行真空環境的介電測量。高溫測試平臺是為樣品提供一個高溫環境；高溫測試夾具提供待測試樣品的測試平臺；阻抗分析儀則負責測試各組參數數據。后，再通過測量軟件將這些硬件設備的功能整合在一起，形成一套由實驗方案設計到溫度控制、參數測量、圖形數據顯示與數據分析于一體的高溫介電溫譜測量系統。
系統介紹：
系統配置：Acer商用計算機，信號切換與控制系統，高溫儀及溫控系統，四通道夾具， 測試與數據采集軟件（軟件兼容同惠LCR表以及是德（安捷倫）E4980AL型LCR表和4294A型阻抗分析儀）；
輸入端口：四個BNC端口；
輸出端口：10個SMA輸出端口，需采用SMA接頭以提高高頻測試穩定性（頻率大于1MHz時）；
溫度范圍：室溫 至850℃（額定溫區，長時間使用溫度），室溫 至1000℃（極限溫區，短時間使用）；
系統屏蔽：通道切換主板預埋屏蔽層設計，連接線材采用射頻同軸線，以保證低頻與高頻測試精度和穩定性；
測試夾具：融石英與探針復合夾具。其中探針需使用氧化鋁與鉑金復合結構，芯層為鉑金，絕緣層為氧化鋁，屏蔽層為鉑金并屏蔽至樣品端。以保證長期高溫測試穩定性；
同時測量樣品數：4個；
測試頻率范圍：20Hz至10 MHz(依據配套LCR表或阻抗分析儀頻率)，基本度0.05%；
升溫速率：升溫速率0.1-10℃/min，測溫精度±0.1℃
測試樣品直徑：2 mm至25 mm；
樣品厚度：0.02 mm至4 mm；
單樣品測試頻率數：少6個頻率測量功能；
變溫介電頻譜測試功能；
變溫阻抗測試功能。
技術特點：
1、高溫介電測試夾具、高溫四探針夾具、高溫兩探針夾具，可與高溫測試平臺配套組成一套或多套高溫阻抗、介電測量系統。
2、溫度范圍從室溫至 600℃、800℃、1000℃、1200℃，具備精確的 PID 控制算法，控溫精度可到±1℃，確保溫度控制不超調。提供 7 種不同控溫方式，滿足客戶多種測試需求。
3、高溫介電測試夾具根據標準 ASTM D150 方法，采用平行板電極原理設計。電極由上電極、下電極以及保護電極組成。上下電極有良好的同心度和平行度，保護電極可減少周圍空氣電容的影響，使得測試數據更加可靠。
應用領域
復合絕緣擦亮
高分子絕緣材料
無機絕緣材料
有機絕緣材料
其它絕緣材料等
技術參數:
溫度范圍 | 室溫~1000℃ |
溫度精度 | ±1℃ |
測量精度 | 0.05% |
升溫速率 | 10℃ |
控溫方式 | PID |
頻率范圍 | 20HZ-30MHZ |
電極材料 | 鉑金 |
通道數 | 通道 1 |
測量環境 | 常溫真空氣氛 |
通訊方式 | USB |
設備尺寸 | 600X400X650m |
維護注意事項：
1、爐子長時間不用后，要在烘烤1小時后使用，以免損壞加熱元件及爐襯，保存爐內的清潔。
2、溫區升溫速率不宜過快，有利于熱效應力的均勻釋放，以延長使用壽命。
3、冷爐使用時，由于爐膛是冷的，須大量吸熱，所以低溫段升溫速率不宜過快，各溫度段的升溫速率差別不宜太大，設置升溫速率時應充分考慮所燒結材料的物理化學性質，以免出現噴料現象，污染爐管。
4、定期檢查溫度控制系統的電氣連接部分的接觸是否正常。
5、不得打開任何溫箱及電器控制設備。
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