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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱(chēng)：
北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀器
產(chǎn)品型號(hào)：HCTZ-2S
廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
所在地：北京市
更新日期：2023-08-28
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
產(chǎn)品特性Product characteristics
| 品牌 | 華測(cè) |
|---|
四探針測(cè)試儀
產(chǎn)品名稱(chēng)：四探針測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào)：HCTZ-2S
品牌：北京華測(cè)
北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀器產(chǎn)品介紹
HCTZ-2S北京華測(cè)四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
HCTZ-2S北京華測(cè)四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線(xiàn)或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，采用兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線(xiàn)或方形四探針相比，提高度，也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。
四探針軟件測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶(hù)程序，通過(guò)此測(cè)試程序輔助使用戶(hù)簡(jiǎn)便地進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試及獲得測(cè)試數(shù)據(jù)并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。
測(cè)試程序控制四探針進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析，然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來(lái)。用戶(hù)可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶(hù)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。
北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀器產(chǎn)品應(yīng)用
HCTZ-2S四探針采用四探針雙電測(cè)量方法，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用精度高的AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率，配備不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)。
產(chǎn)品特點(diǎn)
1.TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)： 光耦與隔離無(wú)非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對(duì)于閃絡(luò)放電過(guò)程中的浪涌對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。華測(cè)的TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)，將起到對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)。
2.多級(jí)循環(huán)溫度采集技術(shù)： 設(shè)備采用PID算法，以及多級(jí)循環(huán)溫度采集以保證溫度的有效值。控溫和測(cè)溫采用同一個(gè)傳感器，保證樣品每次采集的溫度都是樣品實(shí)際溫度.
3.雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù)： 本設(shè)備不僅具備過(guò)壓、過(guò)流保護(hù)系統(tǒng)，它*的雙系統(tǒng)互鎖機(jī)制，當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問(wèn)題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時(shí)，將瞬間切斷 電源。采用低通濾波電流檢測(cè)技術(shù)以保證采集電流的有效值 ，以及電流抗干擾的屏蔽。
4.SPWM電子升壓技術(shù)：采用SPWM電子升壓技術(shù)，這一技術(shù)具有升壓速度平穩(wěn)，精度高。
軟件平臺(tái)
HCTZ-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設(shè)置，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其他新材料測(cè)試多樣化的需求。
測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)hcpro，采用labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料的各項(xiàng)測(cè)試需求，具備穩(wěn)定性和安全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復(fù)，兼容XP、win7、win10系統(tǒng)。
軟件功能
可編輯樣品名稱(chēng)、牌號(hào)、試驗(yàn)條件、試驗(yàn)單位等；
具有試驗(yàn)電壓設(shè)置功能；
可選擇試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
可選擇是否自定義或自動(dòng)試驗(yàn)
截止條件：時(shí)間/電壓/電流/溫度;
語(yǔ)音提示:可選擇是否語(yǔ)音提示功能。
統(tǒng)計(jì)報(bào)告：可自定報(bào)表格式
可生出PDF、CSV、XLS文件格式
分析功能：可對(duì)測(cè)試的數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)。
技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍
電 阻：1×10-4~2×105Ω， 分辨率：1×10-5~1×102Ω
電阻率：1×10-4~2×105Ω-cm， 分辨率：1×10-5~2×102Ω-cm
方 阻：5×10-4~2×105Ω/□， 分辨率：5×10-5~1×102Ω/□
數(shù)字電壓表
量程：20.00mV~2000mV
誤差：±0.1%讀數(shù)±2字
數(shù)控恒流源
量程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA,1A
誤差：±0.1%讀數(shù)±2字
四探針探頭
碳化鎢探針：Ф0.5mm，直流探針間距1.0mm，探針壓力：0~2kg可調(diào)
薄膜方阻探針：Ф0.7mm，直流或方形探針間距2.0mm，探針壓力：0~0.6kg可調(diào)
注意事項(xiàng)
1、儀器操作前請(qǐng)您仔細(xì)閱讀使用說(shuō)明書(shū)，規(guī)范操作
2、輕拿輕放，避免儀器震動(dòng)，水平放置，垂直測(cè)量
3、儀器不使用時(shí)請(qǐng)切斷電源，連接線(xiàn)無(wú)需經(jīng)常拔下，避免灰塵進(jìn)入航空插引起短接等現(xiàn)象
4、探針筆測(cè)試結(jié)束，套好護(hù)套，避免人為斷針
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