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高溫四探針測試儀
日期：2020/9/29瀏覽：2611次
一、產品簡介
高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用高的精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數據，自動生成報表；本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購。
高溫四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高的精度，也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。
HGTZ-800系統搭配Labview系統開發的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行電壓、電流、溫度、時間等設置，符合導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。
二、產品特點
高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統，增設氣體冷卻裝置，可實現快速冷卻。
溫度高的精度控制
過紅外鍍金聚焦爐和溫度控制器的組合使用，可以控制樣品的溫度(遠比普通加溫方式)。此外，冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高的精度。
不同環境下的加熱與冷卻加熱/冷卻
可用真空、氣氛環境、低溫(高純度惰性氣體，靜態或流動)，操作簡單，使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。
三、功能特點
1. 多功能真空加熱爐，一體爐膛設計、可實現、高溫、真空、氣氛環境下進行測試
2. 采用鉑材料作為導線、以減少信號衰減、提高測試精度；
3. 可以測量半導體薄膜材、薄片材料的方塊電阻、電阻率；
4. 可實現常溫、變溫、恒溫條件的1-V、R-T、R-t等測量功能；
5. 溫度傳感器、PID自動溫度控制，使測量溫度更準；
6. 儀器可自動計算試樣的電阻率pV；
7. 10寸觸摸屏設計，一體化設計機械結構，更加穩定、可靠；
8. 程控電子升壓技術，紋波更低、TVS防護系統，保證儀器安全性；
9. 99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針；
10. Ihuace pro控制分析軟件。
四、軟件功能
HC5000系列測試系統的軟件平臺hacepro，采用labview系統開發，符合高分子材料性能的各項測試需求，具備的穩定性與安全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復，。兼容，XP、win7、win10系統。
多語介面：支持中文/英文 兩種語言界面；
即時監控：系統測試狀態即時瀏覽，無須等待；
圖例管理：通過軟件中的狀態圖示，立即對狀態說明，了解測試狀態；
使用權限：可設定使用者的權限，方便管理；
故障狀態：軟件具有設備的故障報警功能。
五、產品結構
整體為桌面型設計，采用紅外燈加熱，無保溫爐膛結構，滿足實驗室無灰塵排放的要求。
內置工控機、觸摸屏，可以利用工控機設定加熱曲線，并實現和其 他測試設備的集成控
定點控溫模式下，可以將樣品10s內加熱到1000攝氏度。
控溫加熱下，可以5度/s速率下線性加熱到1000攝氏度。
在1000度下可以連續工作時間不低于1小時。
采用鉑熱電偶直接測定樣品附近溫度。
樣品可以工作在大氣、真空、氣氛環境下加熱。
配備真空泵，水冷設備，配備超溫、缺水、過流等報警保護裝置。
溫度均勻區：60mm*100mm。
六、試驗
七、產品應用
八、技術指標
| 溫度范圍 | 室溫-1200℃，（反射爐加溫）配水冷機） |
| 控溫精度 | ±0.5℃ |
| 測量精度 | ±0.25℃ |
| 升溫斜率 | 800℃/min（可10秒達800度） |
| 降溫斜率 | 1-200℃/min（可自調整） |
| 測量精度 | 0.5% |
| 樣品規格 | 直徑：20mm以內；厚度：5mm以內 |
| 電極材料 | 鉑金 |
| 測量方式 | 2線-4線測量方式 |
| 供電 | 220V±10%，50Hz |
| 工作環境 | 0℃-55℃ |
| 存儲條件 | -40℃-70℃ |
| 尺寸 | 750mmX660mmX360mm |
| 重量 | 25kg |
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