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鐵電薄膜鐵電性能——電滯回線的測量方法選擇
日期：2019-11-21瀏覽：3351次
鐵電薄膜鐵電性能——電滯回線的測量方法選擇
目前，測量電滯回線的方法較多。其中測試方法簡單、應用廣泛的是Sawyer-Tower電路，如圖所示，其中虛框部分為鐵電薄膜樣品的等效電 路，Cxi為線性感應等效電容，Rx為鐵電薄膜樣品的 漏電導及損耗等效電阻，Cxs為與自發極化反轉對應的非線性等效電容。
Sawyer-Tower電路
在理想情況下，若只考慮Cxs的作用（認為Cxi與Rx開路）,很容易證明Uy與鐵電薄膜樣品的極化強度P成正比。但一般情況下，鐵電薄膜樣品同時具有漏電導和線性感應電容，如果要獲得鐵電薄 膜樣品的木征電滯回線，必須在測貴過程中對樣品的漏電導和線性感應電容進行合適的補償，但這在實際測中是較難處理的。另外，此電路中外接積分電容Co的選取和精度會影響測試的度，當然給鐵屯薄膜樣品提供的信號源U的頻率對測試結果也有很大的影響，這樣就較難對測試結果進行標定和校準。
我們選用如下圖所示的測量電路，此電路由信號源U、被測樣品、電流放大器和積分器組成。信號源U提供給被測樣品的電流經電流放大器放大再經積分器積分后得到Uy進入測量系統。即使被測樣品端加的電壓U為零，積分器上仍然維持電壓,被測樣品端是虛地的，因此，此測試電路討稱為虛地模式。此電路取消了外接電容Co,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容C1的精度，減少了對測試的影響環節，比較容易定標和校準，并且能實現較高的測貴度。
電滯回線測量電路
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